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题名:
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Characterization of microstructures by analytical electron microscopy / Yonghua Rong , |
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ISBN:
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978-7-04-030092-5 价格： CNY119.00 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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xviii, 552页 图 25cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 高等教育出版社 出版日期： 2012 |
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内容提要:
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本书介绍了分析电子显微学 (AEM) 的基本概念和操作技术, 聚集于相恋和形变中位错的AEM研究。同时通过大量的例子阐述衍射晶体学的物理概念和数学分析方法, 例如相变中位向关系的定量预测等, 以便读者加深理解和拓展视野。 |
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主题词:
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电子显微镜分析 研究生 |
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中图分类法:
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O657.99 版次： 5 |
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主要责任者:
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戎咏华 rong yong hua 著 |
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版次:
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英文版 |
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责任者附注:
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责任者规范汉译姓名: 戎咏华 |
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索书号:
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1 |