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题名:
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公差配合与技术测量
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于凤丽主编
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ISBN:
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978-7-111-21582-0
价格：
CNY18.00
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语种:
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chi
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载体形态:
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172页
图
26cm
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出版发行:
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出版地：
北京
出版社：
机械工业出版社
出版日期：
2007
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内容提要:
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本书共分绪论，光滑孔、轴尺寸的公差与配合，技术测量基础，形状和位置公差及检测，表面粗糙度，光滑极限量规及典型零件的公差及检测共七章。
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主题词:
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公差
配合
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主题词:
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技术测量
中等专业教育
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中图分类法:
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TG801
版次：
4
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主要责任者:
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于凤丽
主编
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附注:
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中等职业教育“十一五”规划教材
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索书号:
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3
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